| Opintojaksot | |||||
| |Tutkinnot| | |Opintokokonaisuudet| | |Kaikki| | |Jatko| | |KV| | |
|
|
|
|||||||||||
Mittaustekniikka |
Syventävät opinnot
Jouko Halttunen , Jukka Lekkala , Risto Ritala
Mittaustekniikan opintokokonaisuus tarjoaa mahdollisuuden suunnata opinnot opiskelijan oman erikoisosaamisen mukaisesti. Pakolliset opintojaksot vahvistavat mittausteknistä osaamista ja muilla opinnoilla syvennetään tietoja erikoisalan mittaustekniikasta. Opintokokonaisuuden vastuuhenkilöt antavat mielellään lisätietoja.
- Antaa valmiudet tieteellisen tiedon ja tieteellisten menetelmien soveltamiseen.
- Antaa valmiudet tieteelliseen jatkokoulutukseen.
- Antaa valmiudet toimia työelämässä mittaustekniikan asiantuntijana ja kehittäjänä.
- Antaa valmiudet toimia asiantuntijana mittaustekniikkaa koskevien ilmiöiden ja ongelmien yhteiskunnallisessa käsittelyssä.
- Antaa riittävät kieli-, viestintä- ja yhteistyötaidot sekä valmiudet toimia monitieteisessä yhteisössä.
- Antaa opiskelijalle mittaustekniikan menetelmien ja siihen liittyvien sovellusten hyvä tuntemus.
| Opintokokonaisuus | Opintopisteet |
| Automaatiosovellukset biotekniikassa | 25 op |
| Biomittaukset | 25 op |
| Control Theory and Instrumentation | 25 op |
| Lääketieteellinen tekniikka | 25 op |
| Mittaus- ja informaatiotekniikka | 25 op |
| Mittaus- ja informaatiotekniikka TL | 25 op |
| Oppivat ja älykkäät järjestelmät | 25 op |
| Oppivat järjestelmät ja systeemiteoria | 25 op |
| Signaalinkäsittely ja multimedia | 25 op |
| Säätötekniikka | 25 op |
| Teknillinen fysiikka | 25 op |
| Teknillinen matematiikka | 25 op |
| Teknillisen laskennan menetelmät | 25 op |
Pakollista opintojaksoa ei voi sisällyttää syventäviin opintoihin, mikäli se sisältyy esitietona olevaan opintokokonaisuuteen.
| Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus |
| MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät | 5 op | 2 |
| MIT-1510 Mittaus- ja informaatiotekniikan D-työseminaari | 1 op | 3 |
| MIT-2010 Metrologia | 7 op | 1 |
| MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 | 7 op | 1 |
| MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op | 2 |
| MIT-3050 Mittausten informaatiosisältö ja datan luotettavuus | 5 op | 2 |
| MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu | 7 op | 2 |
| MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi | 5 op | 2 |
| MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi | 5 op | 2 |
| MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | 5 op | 2 |
| MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 | 5 op | 2 |
| MIT-4010 Anturifysiikka | 7 op | 1 |
| MIT-4030 Mikroanturit | 5 op | 2 |
| MIT-4050 Piianturien suunnittelu | 7-8 op | 2 |
| MIT-4070 Bioanturit | 5 op | 2 |
| MIT-5511 Akustiikan mittaukset | 4-7 op | 2 |
| Yhteensä | 85 op |
1. Valittava vähintään yksi opintojakso, mikäli yhtäkään niistä ei sisälly esitietona olevaan aineopintokokonaisuuteen.
2. Valittava vähintään 15 op.
3. Pakollinen diplomityönsä Mittaustekniikan opintokokonaisuuteen tekeville.
Alla mainittujen opintojaksojen lisäksi myös muita TTY:n opintojaksoja voidaan sisällyttää opintokokonaisuuteen opiskelijan suuntautuneisuuden mukaisesti.
Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen
| Opintojakso | Opintopisteet |
| MIT-1310 Mittaus- ja informaatiotekniikan työkurssi | 3-8 op |
| MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö | 3-7 op |
| MIT-1350 Anturitekniikan työkurssi | 3 op |
| MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä | 2-15 op |
| MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op |
| MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa | 4 op |
| Yhteensä | 20 op |
| Viimeksi muokattu | 14.03.2007 |
| Muokkaaja | Heikki Jokinen |