Opintojaksot  
|Tutkinnot| |Opintokokonaisuudet| |Kaikki| |Jatko| |KV|

Opinto-opas 2007-2008

Mittaus- ja informaatiotekniikka

Opintokokonaisuuden tyyppi

Aineopinnot

Yhteyshenkilöt

Jouko Halttunen , Jukka Lekkala , Risto Ritala

Mittaukset ja niistä saatava informaatio ovat keskeisessä asemassa kaikessa teknisen toiminnan päätöksenteossa; mittaamalla saadaan tutkimustyössä ja prosessien tai koneiden hallinnassa tarvittava perustieto. Mittaus- ja informaatiotekniikan aineopinnoissa käsitellään mittauksiin liittyviä ydinkysymyksiä, eli asioita, joita suunnittelussa, mittauksessa ja mittausinformaation käsittelyssä on otettava huomioon, jotta saatu tieto on spesifistä, luotettavaa ja tarkkaa. Laajasti sovellettavana osaamisalueena mittaus- ja informaatiotekniikkaan voidaan erinomaisesti yhdistää lähes kaikkia muita aineopintoja.

Tavoitteet

- Antaa edellytykset ymmärtää mittaus- ja informaatiotekniikan merkitys sekä teknillisen että yhteiskunnallisen kehityksen kannalta
- Antaa riittävät kieli- ja viestintätaidot
- Antaa perustan mittaus- ja informaatiotekniikan alan hallintaan ja luo edellytykset seurata alan kehitystä
- Antaa valmiudet ymmärtää tieteellistä ajattelua ja perusvalmiudet tieteellisiin työskentelytapoihin, tiedon hankintaan ja hallintaan
- Antaa edellytykset jatkaa ylempään korkeakoulututkintoon sekä valmiuden jatkuvaan oppimiseen
- Antaa edellytykset hankitun tiedon soveltamiseen työelämässä

Tutkinnot, joihin opintokokonaisuus voidaan sisällyttää

Tutkinto
Automaatiotekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Automaatiotekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto
Kuitu- ja tekstiilitekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Kuitu- ja tekstiilitekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto
Materiaalitekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Materiaalitekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto
Sähkötekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Sähkötekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto
Tietoliikenne-elektroniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Tietoliikenne-elektroniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto
Tietotekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Tietotekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto

Esitietovaatimukset

Suositeltavina esitietoina olevat opintojaksot voidaan sijoittaa koulutusohjelmakohtaisiin perusopintoihin. Opintojaksoja Piirianalyysi I ja Elektroniikan perusteet II suositellaan syventävissä opinnoissaan Anturitekniikkaan suuntautuville ja opintojaksoa Signaalinkäsittelyn menetelmät Mittausinformaatiotekniikkaan suuntautuville.
Opintojakso Opintopisteet P/S
ELE-1020 Elektroniikan perusteet II 6 op Suositeltava
MIT-1010 Mittaustekniikka 5 op Pakollinen
SGN-1200 Signaalinkäsittelyn menetelmät 4 op Suositeltava
SMG-1100 Piirianalyysi I 5 op Suositeltava

Jatkomahdollisuudet

Opintokokonaisuus Opintopisteet
Anturitekniikka 30 op
Biosensing 30 op
Konedynamiikka 30 op
Langattomat sensoriverkot 30 op
Mittausinformaatiotekniikka 30 op
Mittaustekniikka 30 op
Oppivat järjestelmät 30 op

Sisältö

Pakolliset opintojaksot

Aineopintokokonaisuuteen suositellaan valittavaksi kaikki kolme opintojaksoa. Kokonaisuuden täydentämiseen suositellaan opintojaksoa MIT-1110.

Opintojakso Opintopisteet Vaihtoehtoisuus
MIT-2010 Metrologia 7 op 1   
MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 7 op 1   
MIT-4010 Anturifysiikka 7 op 1   
Yhteensä 21 op  

1. Valittava vähintään kaksi opintojaksoa.

Täydentävät opintojaksot

Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen

Opintojakso Opintopisteet
MIT-1110 Mittaus- ja informaatiotekniikan sovellukset 4 op
MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät 5 op
MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö 3-7 op
MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 5 op
MIT-3050 Mittausten informaatiosisältö ja datan luotettavuus 5 op
MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu 7 op
MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi 5 op
MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi 5 op
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 5 op
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 5 op
MIT-4030 Mikroanturit 5 op
MIT-4050 Piianturien suunnittelu 7-8 op
MIT-4070 Bioanturit 5 op
MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät 5 op
MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa 4 op
MIT-5511 Akustiikan mittaukset 4-7 op
Yhteensä 79 op

Viimeksi muokattu 12.03.2007
MuokkaajaHeikki Jokinen