Tampereen yliopisto
katja.mustonen [at] tuni.fi (katja[dot]mustonen[at]tuni[dot]fi)
Uusimmat julkaisut
Non-disruptive HF pretreatment to enhance defect visibility in silicon wafer manufacturing via photoluminescence imaging
Sutinen, K., Golovleva, M., Liu, X., Patana, M., Timperi, I., Mustonen, K., Vähänissi, V. & Savin, H., 14 syysk. 2026, julkaisussa: Semiconductor Science and Technology. 41, 9, 095010.Tutkimustuotos: Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Black carbon instrument responses to laboratory generated particles
Salo, L., Saarnio, K., Saarikoski, S., Teinilä, K., Barreira, L. M. F., Marjanen, P., Martikainen, S., Keskinen, H., Mustonen, K., Lepistö, T., Aakko-Saksa, P., Hakkarainen, H., Pfeiffer, T., Jalava, P., Karjalainen, P., Keskinen, J., Kuittinen, N., Timonen, H. & Rönkkö, T., toukok. 2024, julkaisussa: Atmospheric Pollution Research. 15, 5, 102088.Tutkimustuotos: Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Detection of Microcracks in Cz-Si Wafer Manufacturing by Photoluminescence Imaging
Mustonen, K., Lähteenmäki, J. P. & Savin, H., syysk. 2024, julkaisussa: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. 221, 17, 2400295.Tutkimustuotos: Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu
Connection between ambient black carbon (BC) and lung deposited surface area (LDSA) concentrations – preliminary results
Lepistö, T., Kuuluvainen, H., Lintusaari, H., Kuittinen, N., Salo, L., Markkula, L., Huhtala, J., Laakkonen, E., De Oliveira Negri, L., Mustonen, K., Saarikoski, S., Timonen, H., Niemi, J. V. & Rönkkö, T., 17 maalisk. 2021.Tutkimustuotos: Muu konferenssimateriaali › Posteri › Tieteellinen