|
|
|||||||||||||||||
Opinto-opas 2013-2014
Materiaalitiede, 30 op |
Opintokokonaisuuden tyyppi
Syventävät opinnot
Yhteyshenkilö
Jyrki Vuorinen, Juha Nykänen, Veli-Tapani Kuokkala
Osaamistavoitteet
| - | osaa analysoida ja arvioida materiaalitieteen tutkimusmenetelmillä saatuja tuloksia |
| - | pystyy suunnittelemaan, kehittämään ja toteuttamaan korkeatasoista materiaalitieteen tutkimusta ja viestimään siitä suullisesti ja kirjallisesti |
| - | osaa valita tutkimusongelmaan sen ratkaisemiseen sopivat materiaalitieteen tutkimusmenetelmät, ja tarvittaessa huomioida poikkitieteellisen tutkimuksen tarpeen |
| - | pystyy toimimaan asiantuntijana materiaalitieteen ilmiöiden ja ongelmien yhteiskunnallisessa käsittelyssä |
Esitietovaatimukset
| Opintokokonaisuus | Opintopisteet | P/S |
| 24 op | Pakollinen | |
| 24 op | Pakollinen | |
| 26 op | Pakollinen |
Jatkomahdollisuudet
| Opintokokonaisuus | Opintopisteet |
| Computational Materials Science | 30 op |
| Materiaalitiede, syventävät opinnot | 20 op |
| Mechanics of Materials | 30 op |
Sisältö
Pakolliset opintojaksot
| Opintojakso | Opintopisteet | Vuosikurssi |
| MOL-32216 Thermal Analysis of Materials | 5 op | IV |
| MOL-32226 Electron Microscopy | 5 op | IV |
| MOL-33236 X-ray Diffraction | 5 op | IV |
| Yhteensä | 15 op |
Vaihtoehtoiset opintojaksot
Valittava vähintään 15 opintopisteen edestä opintojaksoja
| Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus | Vuosikurssi |
| FYS-1620 Kiinteän olomuodon fysiikka | 3 op | 2 | V |
| FYS-2106 Introduction to Surface Science | 6 op | 2 | V |
| FYS-2306 Electron Spectroscopy | 5 op | 2 | V |
| MOL-32246 Introduction to NDT Techniques | 3 op | 1 | V |
| MOL-32256 Wear of Materials | 6 op | 1 | V |
| MOL-32266 Failure Analysis | 5 op | 1 | V |
| MOL-33286 Transmission Electron Microscopy | 5 op | 1 | V |
| MOL-92236 Special Treatise on Materials Science | 3-8 op | 1 | V |
1. Materiaali
2. Fysiikka
Lisätiedot
Suositellaan materiaalitekniikan opiskelijoille, jotka haluavat syvällisempiä tietoja materiaallitieteen tutkimusmenetelmistä ja niiden soveltuvuudesta elektroniikan, optiikan, fotoniikan, pinnoitustekniikan, energiatekniikan, kemiantekniikan ja lääketieteellisen tekniikan tutkimuksessa.