|
|
|||||||||||||||||
Opinto-opas 2011-2012
Mittaus- ja informaatiotekniikka, 25 op |
Opintokokonaisuuden tyyppi
Aineopinnot
Yhteyshenkilö
Risto Ritala, Jukka Lekkala, Jouko Halttunen
Osaamistavoitteet
| - | Opiskelija ymmärtää mittaus- ja informaatiotekniikan merkityksen sekä teknillisen että yhteiskunnallisen kehityksen kannalta |
| - | Opiskelija hallitsee riittävät kieli- ja viestintätaidot |
| - | Opiskelija osaa mittaus- ja informaatiotekniikan perusteet ja kykenee seuraamaan alan kehitystä |
| - | Opiskelija hallitsee tieteellisen ajattelun ja tieteellisten työskentelytapojen perusvalmiudet sekä osaa hankkia ja hallita tietoa |
| - | Opiskelija kykenee jatkamaan ylempään korkeakoulututkintoon tähtäävään koulutukseen |
| - | Opiskelija osaa soveltaa hankittua tietoa työelämässä |
Esitietovaatimukset
ASE-1220 Systeemitekniikan perusteet 1 ( Suositeltava )
MIT-1010 Mittaustekniikka ( Suositeltava )
Jatkomahdollisuudet
| Opintokokonaisuus | Opintopisteet |
| Anturitekniikka | 30 op |
| Biosensing | 30 op |
| Langattomat sensoriverkot | 30 op |
| Mikrosysteemitekniikka | 30 op |
| Mittausinformaatiotekniikka | 30 op |
| Mittaustekniikka | 30 op |
| Systeemiteoria | 30 op |
Sisältö
Pakolliset opintojaksot
ASE-2510 Johdatus systeemien analysointiin on vaihtoehtoinen lukuvuonna 2010-2011 tai aiemmin luennoidun opintojakson MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 kanssa.
| Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus | Vuosikurssi |
| ASE-2510 Johdatus systeemien analysointiin | 5 op | 1 | III |
| MIT-4010 Anturifysiikka | 7 op | 1 | III |
| Yhteensä | 12 op |
1. Lukuvuonna 2010-2011 tai aiemmin luennoitu opintojakso MIT-2010 Metrologia voidaan myös sisällyttää kahden pakollisen opintojakson joukkoon.
Täydentävät opintojaksot
Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen (25)
| Opintojakso | Opintopisteet | Vuosikurssi |
| ASE-7110 Systeemitekniikan projektityö | 2-8 op | III |
| ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset | 5 op | III |
| ASE-7816 Biosensors | 5 op | III |
| MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op | III |
| MIT-3051 Mittausten informaatiosisältö | 5 op | III |
| MIT-4031 Mikroanturit | 6 op | III |
| MIT-4051 Piianturien suunnittelu | 8-9 op | III |
| MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op | III |
| MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa | 4 op | III |
| MIT-5511 Akustiikan mittaukset | 4-7 op | III |
Lisätiedot
Opintokokonaisuus soveltuu lukuvuonna 2009-2010 tai aiemmin opintonsa aloittaneille. Mittaukset ja niistä saatava informaatio ovat keskeisessä asemassa kaikessa teknisen toiminnan päätöksenteossa; mittaamalla saadaan tutkimustyössä ja prosessien tai koneiden hallinnassa tarvittava perustieto. Mittaus- ja informaatiotekniikan aineopinnoissa käsitellään mittauksiin liittyviä ydinkysymyksiä, eli asioita, joita suunnittelussa, mittauksessa ja mittausinformaation käsittelyssä on otettava huomioon, jotta saatu tieto on spesifistä, luotettavaa ja tarkkaa. Laajasti sovellettavana osaamisalueena mittaus- ja informaatiotekniikkaan voidaan erinomaisesti yhdistää lähes kaikkia muita aineopintoja.