Opinto-opas 2008-2009
Perus

Perus Pori KV Jatko Avoin

|Tutkinnot|     |Opintokokonaisuudet|     |Opintojaksot|    

Opinto-opas 2008-2009

Mittaus- ja informaatiotekniikka

Opintokokonaisuuden tyyppi

Aineopinnot

Yhteyshenkilöt

Risto Ritala, Jukka Lekkala, Jouko Halttunen

Tavoitteet

- Antaa edellytykset hankitun tiedon soveltamiseen työelämässä
- Antaa edellytykset jatkaa ylempään korkeakoulututkintoon sekä valmiuden jatkuvaan oppimiseen
- Antaa edellytykset ymmärtää mittaus- ja informaatiotekniikan merkitys sekä teknillisen että yhteiskunnallisen kehityksen kannalta
- Antaa perustan mittaus- ja informaatiotekniikan alan hallintaan ja luo edellytykset seurata alan kehitystä
- Antaa riittävät kieli- ja viestintätaidot
- Antaa valmiudet ymmärtää tieteellistä ajattelua ja perusvalmiudet tieteellisiin työskentelytapoihin, tiedon hankintaan ja hallintaan

Tutkinnot, joihin opintokokonaisuus voidaan sisällyttää

Tutkinto
Automaatiotekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto (Di)
Signaalinkäsittelyn ja tietoliikennetekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto (Di)
Signaalinkäsittelyn ja tietoliikennetekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Sähkötekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto
Sähkötekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto (Di)
Tietotekniikan koulutusohjelma - Tekniikan kandidaatin tutkinto (Di)
Tietotekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto

Esitietovaatimukset

ELE-1020 Elektroniikan perusteet II ( Suositeltava )
MIT-1010 Mittaustekniikka ( Pakollinen )
MIT-3310 Signaalianalyysin perusteet ( Suositeltava )
SGN-1200 Signaalinkäsittelyn menetelmät ( Suositeltava )
SMG-1100 Piirianalyysi I ( Suositeltava )
Suositeltavina esitietoina olevat opintojaksot voidaan sijoittaa koulutusohjelmakohtaisiin perusopintoihin. Opintojaksoja Piirianalyysi I ja Elektroniikan perusteet II suositellaan syventävissä opinnoissaan Anturitekniikkaan suuntautuville ja opintojaksoja Signaalianalyysin perusteet tai Signaalinkäsittelyn menetelmät Mittausinformaatiotekniikkaan suuntautuville. ( Suositeltava )

Sisältö

Pakolliset opintojaksot

Aineopintokokonaisuuteen suositellaan valittavaksi kaikki kolme opintojaksoa. Kokonaisuuden täydentämiseen suositellaan opintojaksoa MIT-1110.

Opintojakso Opintopisteet Vaihtoehtoisuus Vuosikurssi
MIT-2010 Metrologia 7 op 1      I  
MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 7 op 1      I  
MIT-4010 Anturifysiikka 7 op 1      I  
Yhteensä 21 op    

1. Valittava vähintään kaksi opintojaksoa.

Täydentävät opintojaksot

Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen (25)

Opintojakso Opintopisteet Vuosikurssi
MIT-1110 Mittaus- ja informaatiotekniikan sovellukset 4 op I  
MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät 5 op I  
MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö 3-7 op I  
MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 5 op I  
MIT-3051 Mittausten informaatiosisältö 5 op I  
MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu 7 op I  
MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi 5 op I  
MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi 5 op I  
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 5 op I  
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 5 op I  
MIT-4030 Mikroanturit 5 op I  
MIT-4050 Piianturien suunnittelu 7-8 op I  
MIT-4070 Bioanturit 5 op I  
MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät 5 op I  
MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa 4 op I  
MIT-5511 Akustiikan mittaukset 4-7 op I  
Yhteensä 79 op  

Lisätiedot

Mittaukset ja niistä saatava informaatio ovat keskeisessä asemassa kaikessa teknisen toiminnan päätöksenteossa; mittaamalla saadaan tutkimustyössä ja prosessien tai koneiden hallinnassa tarvittava perustieto. Mittaus- ja informaatiotekniikan aineopinnoissa käsitellään mittauksiin liittyviä ydinkysymyksiä, eli asioita, joita suunnittelussa, mittauksessa ja mittausinformaation käsittelyssä on otettava huomioon, jotta saatu tieto on spesifistä, luotettavaa ja tarkkaa. Laajasti sovellettavana osaamisalueena mittaus- ja informaatiotekniikkaan voidaan erinomaisesti yhdistää lähes kaikkia muita aineopintoja.

Viimeksi muokattu05.08.2008
MuokkaajaJohanna Heinola-Lepistö