Opinto-opas 2008-2009 |
|||||
| Perus | Pori | KV | Jatko | Avoin | |
|
|
|
|||||||||||||||||
TKT-1510 Testattavuussuunnittelu, 3 op
|
Olli Vainio
| Luentoajat ja -paikat | Kohderyhmä, jolle suositellaan | |
| Toteutus 1 |
|
Tentti
-
Opitaan menetelmiä digitaalisten piirien ja piille integroitujen järjestelmien testaamiseen ja testattavuuden parantamiseen.
| Sisältöalue | Ydinaines | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
| 1. | Digitaalipiirien vikamallit. | Muistien vikamallit. | Piirin I/O-nastojen yhteiskäyttö. |
| 2. | Digitaalipiirin vikojen havaitseminen testaamalla. | Boolen algebran hyödyntäminen testisuunnittelussa. | Kellotukseen liittyvät erityisjärjestelyt. |
| 3. | Scan-arkkitehtuuri ja -menetelmät. | Core-prosessorien erilaiset piirteet. | MBIST integrointiin liittyvät asiat. |
| 4. | Sisäänrakennettu itsetestaus. Muistien ja prosessoriytimien testaus. | ATPG-periaatteet. | ATPG-suunnittelusäännöt. |
| 5. | Ammattialueen keskeinen termistö. | Test wrapper. | Wrapperin asettamat vaatimukset testattavuussuunnittelulle. |
| Tyyppi | Nimi | Tekijä | ISBN | URL | Painos,saatavuus... | Tenttimateriaali | Kieli |
| Kirja | Design for Test for Digital IC | A. L. Crouch | 0-13-084827-1 | ISBN 0-13-084827-1 | Englanti | ||
| Kirja | Fault Tolerant & Fault Testable Hardware Design | P. K. Lala | 0-13-308248-2 | ISBN 0-13-308248-2 | Englanti |
| Opintojakso | P/S |
| ELE-1010 Elektroniikan perusteet I | Pakollinen |
| TKT-1100 Digitaalitekniikan perusteet | Pakollinen |
| TKT-1212 Digitaalijärjestelmien toteutus | Suositeltava |
| Opintojakso | Vastaa opintojaksoa | Selite |
|
|
|
Vastaavuus 1 = 1 |
|
|
|
Pidetään vain joka toinen vuosi.
| Kuvaus | Opetusmuodot | Toteutustapa | |
| Toteutus 1 | Luennot Harjoitustyöt |
Lähiopetus: 0 % Etäopetus: 0 % Itseopiskelu: 0 % |