Opinto-opas 2008-2009 Perus Perus Pori KV Jatko Avoin |Tutkinnot|     |Opintokokonaisuudet|     |Opintojaksot|

Opintojakson vastuuhenkilö

Toivo Lepistö

Toteutuskerrat

	Luentoajat ja -paikat	Kohderyhmä, jolle suositellaan
Toteutus 1	Per 3 : Tiistai 10 - 12, K3104

Suoritusvaatimukset

Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti. Hyväksytysti suoritetut harjoitukset.

Opetukseen ja oppimiseen liittyvät periaatteet ja lähtökohdat

-

Tavoitteet

Kurssissa tarkastellaan yleisimpiä materiaalien karakterisointiin käytettäviä fysikaalisia tutkimusmenetelmiä. Tavoitteena on kattavan yleiskuvan ja -tietämyksen luominen kaikista niistä materiaalitieteen fysikaalisista tutkimusmenetelmistä, joilla on laaja-alaista käyttöä sekä perustutkimuksessa että erilaisissa teollisissa sovelluskohteissa.

Sisältö

Sisältöalue	Ydinaines	Täydentävä tietämys	Erityistietämys
1.	mikroskopia (optinen, elektronimikroskopia, atomivoimamikroskopia, muut tekniikat)
2.	röntgentekniikat (diffraktio, fluoresenssi, muut tekniikat)
3.	termiset analyysimenetelmät
4.	materiaalin koostumusmääritykset
5.	pintaherkät karakterisointimenetelmät ja ainettarikkomattomat tarkastusmenetelmät

Oppimateriaali

Tyyppi	Nimi	Tekijä	ISBN	URL	Painos,saatavuus...	Tenttimateriaali	Kieli
Kirja	An Introduction to the Optical Microscope	S. Bradbury					Englanti
Kirja	Characterization of Materials	J.B. Wachtman			Second Edition		Englanti
Kirja	Elements of X-ray Diffraction	Cullity					Englanti
Kirja	Modern Techniques of Surface Science	D.P. Woodruff ja T.A. Delchair					Englanti
Opintomoniste	Materiaalitieteen fysikaaliset tutkimusmenetelmät	Lepistö					Suomi

Vastaavuudet

Tarkempia tietoja toteutuskerroittain

	Kuvaus	Opetusmuodot	Toteutustapa
Toteutus 1		Luennot Harjoitukset	Lähiopetus: 0 % Etäopetus: 0 % Itseopiskelu: 0 %

Viimeksi muokattu	07.08.2008
Muokkaaja	Toivo Lepistö