2803010
ELEKTRONIMIKROSKOPIA,
ELECTRON MICROSCOPY, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
Professori TOIVO LEPISTÖ
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja yhteensä 28h. Harjoituksia yhteensä 14h.
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
2+ |
2 |
- |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
1+ |
1 |
- |
- |
- |
Tavoitteet
Hallita pyyhkäisyelektronimikroskopian (SEM) ja mikroanalysoinnin (EDS ja WDS) perusteet ja luoda valmius niiden soveltamiseen käytännön työskentelyssä.
Sisältö
Pyyhkäisyelektronimikroskoopin rakenne, toiminta, kuvan- ja kontrastinmuodostus, erityistoiminnot sekä esimerkkejä sovelluskohteista. Näytteenvalmistus. EDS- ja WDS-mikroanalysoinnin perusteet, korjauslaskenta, ATK-ohjelmistot, kuvankäsittely ja sovellusesimerkkejä.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti luentojen ja harjoitusten sisällöstä, hyväksytysti suoritetut seminaari- ja laboratorioharjoitukset.
Kirjallisuus
Luentomonisteet. Pentti Kettunen: Elektronimikroskopia I, Laitteisto ja kontrastinmuodostus, Otakustantamo 1983. Pentti Kettunen ja Toivo Lepistö: Elektronimikroskopia II, Otakustantamo 1983. (soveltuvin osin). J.I. Goldstein ym.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Kluwer Academic Publisher, New York 2003. L. Reimer: Scanning Electron Microscopy, Springer-Verlag, SLT 1998.
Huomautuksia
Opintojakso pyritään luennoimaan FUT-ohjelmassa, jolloin opetuskielenä on englanti (2803011).