2803000
MATERIAALITIETEEN FYSIKAALISET TUTKIMUSMENETELMÄT,
PHYSICAL RESEARCH METHODS IN MATERIALS SCIENCE, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
Professori TOIVO LEPISTÖ
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja yhteensä 42h. Harjoituksia yhteensä 21h.
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
3+ |
3 |
- |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
1+ |
1 |
- |
- |
- |
Tavoitteet
Kurssissa tarkastellaan yleisimpiä materiaalien karakterisointiin käytettäviä fysikaalisia tutkimusmenetelmiä. Tavoitteena on kattavan yleiskuvan ja -tietämyksen luominen kaikista niistä materiaalitieteen fysikaalisista tutkimusmenetelmistä, joilla on laaja-alaista käyttöä sekä perustutkimuksessa että erilaisissa teollisissa sovelluskohteissa.
Sisältö
Mikroskopia (optinen, elektronimikroskopia, atomivoimamikroskopia, muut tekniikat), röntgentekniikat (diffraktio, fluoresenssi, muut tekniikat), termiset analyysimenetelmät, materiaalin koostumusmääritykset, pintaherkät karakterisointimenetelmät ja ainettarikkomattomat tarkastusmenetelmät.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti. Hyväksytysti suoritetut harjoitukset.
Kirjallisuus
Luentomonisteet. S. Bradbury: An Introduction to the Optical Microscope, Royal Microscopical Society, Oxford Sci. Publ., 1991, Cullity: Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley, USA, 1978, M. Grassebauer & H.W. Werner: Analysis of Microelectronic Materials and Devices, John Wiley & Sons Ltd, 1996, D.P. Woodruff & T.A. Delchair: Modern Techniques of Surface Science - Second Edition, Cambridge University Press, 1994 ja J.B. Wachtman: Characterization of Materials, Butterworth-Heinemann Manning Publications Co., 1993.
Huomautuksia
Kurssia suositellaan opiskelijoille, jotka haluavat saada yleiskuvan materiaalien karakterisointiin käytettävistä fysikaalisista tutkimusmenetelmistä.