TTKK Opinto-opas

2803000 Materiaalitieteen fysikaaliset tutkimusmenetelmät, 3 ov

Physical Research Methods in Materials Science, 3 cu

Professori TOIVO LEPISTÖ

Luentoja 42 h. Seminaari- ja laboratorioharjoituksia 21 h.

Viikottainen Opetus / Periodi S1 S2 K1 K2 Kesä

Luennot (h) 3 3 - - -

Harjoitukset (h) 1 1 - - -

Viikottainen Opetus / Periodi	S1	S2	K1	K2	Kesä
Luennot (h)	3	3	-	-	-
Harjoitukset (h)	1	1	-	-	-

Luentoaika ja -paikka

Pe 9-12 K3104

Tavoitteet

Kurssissa tarkastellaan yleisimpiä materiaalien karakterisointiin käytettäviä fysikaalisia tutkimusmenetelmiä. Tavoitteena on kattavan yleiskuvan ja -tietämyksen luominen kaikista niistä materiaalitieteen fysikaalisista tutkimusmenetelmistä, joilla on laaja-alaista käyttöä sekä perustutkimuksessa että erilaisissa teollisissa sovelluskohteissa.

Sisältö

Mikroskopia (optinen, elektronimikroskopia, atomivoimamikroskopia, muut tekniikat), röntgentekniikat (diffraktio, fluoresenssi, muut tekniikat), termiset analyysimenetelmät, materiaalin koostumusmääritykset, pintaherkät karakterisointimenetelmät ja ainettarikkomattomat tarkastusmenetelmät.

Tutkintovaatimukset

Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti. Hyväksytysti suoritetut harjoitukset.

Kirjallisuus

Luentomonisteet. S. Bradbury: An Introduction to the Optical Microscope, Royal Microscopical Society, Oxford Sci. Publ., 1991, Cullity: Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley, USA, 1978, M. Grassebauer & H.W. Werner: Analysis of Microelectronic Materials and Devices, John Wiley & Sons Ltd, 1996, D.P. Woodruff & T.A. Delchair: Modern Techniques of Surface Science - Second Edition, Cambridge University Press, 1994 ja J.B. Wachtman: Characterization of Materials, Butterworth-Heinemann Manning Publications Co., 1993.

Suositeltavat esitiedot

Perusopintoihin kuuluvat pakolliset kurssit.

Huomautuksia

Kurssia suositellaan opiskelijoille, jotka haluavat saada yleiskuvan yleisimmistä materiaalien karakterisointiin käytettävistä fysikaalisista tutkimusmenetelmistä.