Opinto-opas 2005-2006

ELEP-4410 MIKROSKOPIAN MENETELMÄT, 5 op
Microscopical Methods in Electronic Production

Opintojakson vastuuhenkilö
Pekka Ruuskanen

Opettajat
Pekka Ruuskanen

Toteutuskerrat
Toteutus 1
  Periodi 1 Periodi 2 Periodi 3 Periodi 4 Kesä Opetuskieli
Luento - - 4 h/vko - - Vain suomeksi
Harjoitus - - 2,5 h/vko - - Vain suomeksi
Tentti   Vain suomeksi
(Lukuvuoden 2005-2006 aikataulu)

Tavoitteet
Pinta- ja läpivalaisumikroskopiassa tarvittavan tekniikan perusteet ja sovellukset. Sisältää myös valo-oppia, mikroskooppioptiikkaa, mikroskopian erikoismenetelmiä,optiset mittausmenetelmiä, poikkihieiden valmistusta, dokumentointia ja kuvien analysointia. Tutustutaan pyyhkäisyelektronimikroskopiaan (SEM) ja mikroanalysointiin (EDS, ESCA, Auger ja WDS). Käydään läpi myös muita mikroskooppisia menetelmiä, kuten röntgenläpivalaisumenetelmää ja ultraäänikuvausta. Tunnelointi-ja atomivoimamikroskopian toimintaperiaatteet. Käydään läpi eri mikroskooppimenetelmien edut ja haitat.

Opintojakson arviointikriteerit

  • Opintojaksolla käytetään numeerista arviointiasteikkoa (1-5)

    • Viimeksi muokattu 31.01.2006
    MuokkaajaPekka Ruuskanen